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产品简介
高频测量3GHz,对应6种尺寸的SMD
● IM7580系列专用SMD测试治具
● 2种设备指南,可对应6种尺寸的SMD
● 对应SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
※1:JIS单位mm,相当于EIA0201~EIA1210尺寸
IM7580系列上使用测试治具IM9201时,需要另售的测试治具台IM9200和转换器(3.5mm-7mm)IM9906。测试治具和校正器的组合请咨询各分支机构。
使用IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。
基本参数
可用频率范围 | DC~3 GHz |
---|---|
可测样品尺寸 | 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225 (JIS单位mm, 相当于EIA 0201~EIA 1210尺寸) |
电极结构 | 底部电极 |
**输入电压 | ±42 Vpeak (AC+DC) |
适用机型 | IM7580, IM7580A, IM7581, IM7583, IM7585, IM7587※ ※测试频率高达3GHz,近日发售 |
追加误差 | 阻抗: ±Ze [%] 相位 : ±0.58 × Ze [°] Ze = Ae + (Zse / Zx + Yoe × Zx) ×100 Zx : 阻抗测量值 [Ω] Ae:4 × f2 [%] Zse : (100 + 500 × f) /1000 [Ω] Yoe : (10 + 100 × f) /1000000 [S] f [GHz] |
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